Измеритель параметров шероховатости поверхности цифровой ИПШ-1: Технические условия, страница 8

      4.8.7 Определение изменений СХП ИПШ-1 после воздействия механических ударов.

4.8.7.1 Испытания проводятся на испытательном стенде установки STT-500. Устанавливают работу испытательного стенда в режим многократных ударов при числе ударов в минуту до 30 и максимальном ускорении до 100м/с2, воспроизводят не более 500 ударов.

4.8.7.2 После снятия измерителя шероховатости с установки произвести измерения в соответствии с п.4.8.3.2-п.4.8.3.6., результаты занести в таблицу 5 протокола.

       4.8.8 Определение изменения СХП ИПШ-1 после воздействия вибраций.

4.8.8.1 Установить измеритель влажности на вибростенд УВЭ-100 и потрясти не менее 15 минут.

4.8.8.2 После снятия ИПШ-1 с установки произвести измерения в соответствии с п.4.8.3.2.-4.8.3.6., результаты занести в таблицу 6 протокола.

       4.8.9 Определение мощности, потребляемой ИПШ-1 от питающей сети.

4.8.9.1 Измерение потребляемой мощности проводится с помощью ваттметра при работе ИПШ-1 в нормальных условиях для трех точек диапазона.

 4.8.9.2 Для измерения мощности ваттметр включается в цепь питания в рабочем режиме (рис.1) и при входном измеряемом сигнале равном 0, измеряется потребляемая мощность. Измеренное значение заносят в таблицу 7 протокола.

4.8.9.3 Измеряют потребляемую мощность в точках диапазона измерения шероховатости  100 мкм и 225 мкм в соответствии с п.4.8.3.2.-4.8.3.6.

Рис.1. Схема измерения потребляемой мощности

     4.8.10 Определение электрической прочности изоляции.

Электрическую прочность изоляции для цепи питания проверяют при испытательном напряжении 500 В.

 4.8.10.1 Между корпусом и одним из выводов цепи питания прикладывают испытательное напряжение, которое плавно повышают до 375 В. Выдерживают изоляцию под напряжением в течение 1 минуты и наблюдают изменение состояния цепи, отмечая появление (или отсутствие) пробоя, короны, перекрытия изоляции и т.п. Результат наблюдений заносят в таблицу протокола (Приложение 1).

4.8.10.2 Между корпусом и одним выводом входной цепи прикладывается испытательное напряжение, плавно повышаемое до 500В. Выдерживают изоляцию под напряжением в течение 1 мин. и наблюдают изменение состояния цепи по предыдущему пункту. Результаты наблюдений заносят в таблицу протокола (Приложение 1).

4.8.10.3 Электрическую прочность изоляции для второго вывода входной цепи и первого и второго выводов выходной цепи. Результаты наблюдений заносят в таблицу  протокола (Приложение 1).

4.8.10.4 После испытаний на электрическую прочность изоляции устанавливают нормальные рабочие условия и однократно измеряют СХП, занося измеренные значения в таблицу  пpотокола (Приложение 1).

 4.9  Обработка результатов измерений.

   4.9.1 По результатам измерения статической характеристики преобразования ИПШ-1 в нормальных условиях (п.4.8.3., таблица 1)определяют среднее значении шероховатости в каждой точке диапазона:

                                                                                                (1)

                По результатам измерения СХП ИПШ-1 при нормальных условиях определяют абсолютную погрешность измерения шероховатости:

                                                                                                            (2)

               где Δi – значение абсолютной погрешности ИПШ-1 для каждого из образцов, мкм;

                     Wср –результат измерения, полученный с помощью измерителя влажности ИПШ-1, мкм;

                      Wо – истинное значение шероховатости данного образца, мкм;                               

                  По результатам испытаний ИПШ-1 в нормальных условиях определяют приведенную погрешность измерителя шероховатости:

                                                                                                       (3)

              где Δмах – максимальное значение абсолютной погрешности, %;

                    W – максимальное значение шероховатости, %;

    4.9.2 Определение дополнительной температурной погрешности.

             Дополнительная температурная погрешность оценивается по изменению приведенной погрешности при изменении температуры на 10°С. Приведенную погрешность ИПШ-1 вычисляют по формулам 1-3 по результатам испытаний при температуре окружающего воздуха -10°С, 0°С, +10°С и 30°С и температуре исследуемого продукта 0°С, +10°С и 30°С и определяют дополнительную температурную погрешность

                                                                        (4)

  В качестве оценки дополнительной температурной погрешности  выбирают наибольшее из полученных значений δΘ.

      4.9.3 Определение дополнительной погрешности от воздействия внешнего магнитного поля.

             Дополнительную погрешность от внешнего магнитного поля оценивают по изменению приведенной погрешности прибора при воздействии на него внешнего магнитного поля напряженностью 400 А/м. Испытания при напряженности 200 А/м проводятся для проверки линейности зависимости показаний прибора от напряженности внешнего магнитного поля. Вычисляют приведенную погрешность прибора по таблицам соответствующего Протокола соответственно при отсутствии внешнего магнитного поля и при напряженности   200 А/м и 400 А/м.

               Дополнительную погрешность от внешнего магнитного поля оценивают   по формулам:

                                               ;                                    (5)

                                   ;

              где , -наибольшие значения разности приведенных погрешностей при напряженности 0, 200 А/м и 400 А/м для переменного внешнего магнитного поля при продольном и поперечном положениях прибора относительно плоскости индуктора.

                В качестве оценки дополнительной погрешности  выбирают наибольшее из полученных значений.

         4.9.4 Определение дополнительной погрешности от воздействия ударных нагрузок

             Влияния ударных воздействий на изменение СХП по изменению приведенной погрешности после ударных воздействий, по данным таблицы соответствующего протокола вычисляют приведенную погрешность по формулам 1-3. Прибор считается выдержавшим испытания, если приведенная погрешность не превышает 1.

          4.9.5 Определение дополнительной погрешности, вызванной воздействием вибраций.