Основные физические понятиями и процессы, протекающие в современных элементах электронной техники – активных полупроводниковых и электронных приборах, страница 4

18. Где находится уровень Ферми донорного полупроводника при температуре перехода к собственной проводимости?

19. Где находится уровень Ферми донорного полупроводника при температуре истощения примеси?

35. Где находится уровень Ферми акцкпторного полупроводника при температуре перехода к собственной проводимости?

20. Где находится уровень Ферми акцепторного полупроводника при температуре истощения примеси?

21. От чего зависит произведение концентраций дырок и электронов в легированном полупроводнике?

22. Что происходит с примесным уровнем в сильно легированном полупроводнике?

23. Что такое компенсированные полупроводники?

24. У какого полупроводника – с широкой запрещённой зоной (Si) или узкой запрещённой зоной (Gе)  больше проводимость?

25. У какого полупроводника – слабо легированного или сильно легированного – больше зависимость проводимости от температуры?

Переходы в полупроводниках.

1.  Чем образуется  неподвижный объёмный заряд при контакте металл – полупроводник?

2.  Где образуется обеднённый слой при контакте металл – полупроводник?

3.  От чего увеличивается толщина обеднённого слоя в контакте металл – полупроводник?

4.  Когда образуется обогащённый слой при контакте металл – n - полупроводник?

5.  Когда образуется обогащённый слой при контакте металл – p - полупроводник?

6.  Как образуется обратное включение перехода металл – полупроводник?

7.  Как образуется прямое включение перехода металл – полупроводник?

8.  Как направлено внешнее поле при обратном включении контакта металл – полупроводник?

9.  Как направлено внешнее поле при прямом включении контакта металл – полупроводник?

10. Какой переход образуется при диффузионном методе получения p – n перехода?

11. Какой переход образуется при эпитаксильном методе получения p – n перехода?

12. Чем образуется объёмный заряд в n – области при равновесном состоянии p – n перехода?

13. Чем образуется объёмный заряд в p – области при равновесном состоянии p – n перехода?

14. Куда направленно поле контактной разности потенциалов при равновесном состоянии p – n перехода?

15. В какой области полупроводника больше глубина проникновения контактного поля при равновесном состоянии p – n перехода?

16. Как соотносятся сопротивления области перехода и дальних от него областей полупроводника при равновесном состоянии p – n перехода?

17. От чего уменьшается толщина обеднённого слоя в контакте металл – полупроводник?

18. В какой области полупроводника локализовано электрическое поле с контактной разностью потенциалов при равновесном состоянии p – n перехода?

19. Как направлены дрейфовый и диффузионный токи при равновесном состоянии p – n перехода?

20. Чем создаётся диффузионный ток при образовании равновесного состояния p – n перехода?

21.Чем создаётся дрейфовый ток при образовании равновесного состояния p – n перехода?

22. Каким сопротивлением обладает омический контакт?

15.  Какая область создаётся на границе металл – полупроводник в местах присоединения диода к внешней цепи?

16.  Какое включение p – n перехода считается прямым?

17.  Какое включение p – n перехода считается обратным?

18.  Что влияет на величину барьерной (зарядовой) ёмкости?

19.  Какое явление происходит в p – n переходе под действием прямого смещения?

20.  Какое явление происходит в p – n переходе под действием обратного смещения?

21.  Чем обусловлена диффузионная ёмкость p – n перехода?

22.  Как можно уменьшить диффузионную ёмкость p – n перехода?

23.  Имеется ли диффузионная ёмкость в переходах металл – полупроводник?

24. При каком включении выпрямительный диод имеет наибольшее сопротивление?           

25.  Какие диоды можно использовать для построения генератора?

26.  Какой режим используется для работы низковольтного стабилитрона?