Физические основы защиты информации от технической разведки, страница 91

а выражение для расчета воспринимаемого отношения сигнала к внутренним шумам приемника с учетом (4.33), (4.15) примет вид

       (4.34)

Таким образом, на основе выражений (4.26), (4.27) и (4.34) может быть определено воспринимаемое отношение сигнал/шум в случае АТР. Последовательность действий для расчета по известной величине q_В информационных показателей оценки возможностей АРТ полностью аналогична указанной в подразделе 4.2.

4.5. Основные характеристики канала утечки

информации применительно к инфракрасной разведке

Под инфракрасной разведкой (ИКР) понимается получение информации путем приема и анализа электромагнитных сигналов ИК диапазона волн, излученных или отраженных объектами и предметами окружающей местности.

ИКРВ (видовая) – это разведка, которая формирует изображение объектов в ИК диапазоне волн (от 0,75 мкм). Она позволяет обнаружить объекты в сложных метеоусловиях, обеспечивает получение информации в виде изображений различных объектов и местности.

ИКРП (параметрическая) – разведка, формирующая координатные данные об объекте (пространственные координаты, пространственные скорости). Аппаратура ИКРП – это аппаратура предупреждения ракетного нападения.

Основной особенностью канала утечки информации применительно к ИКР является то, что тело помимо внешнего источника энергии имеет собственное ИК излучение. Поэтому всегда существует контраст между телом и фоном.

Измерив длину волны полученного ИК сигнала, можно определить его тип:

1)  0.75–1,1 мкм – отраженный сигнал

2)  2-5 мкм – собственное излучение

3)  9-14 мкм – интенсивное излучение (как отраженное, так и собственное).

Рассмотрим основные характеристики, которые потребуются для изучения данного раздела.

Поверхностная плотность потока излучения определяется как величина потока излучения, приходящаяся на единицу площади и имеет размерность

Различают также энергетическую освещенность и энергетическую светимость.

Энергетическая освещенность в точке поверхности – это отношение потока излучения, падающего на элемент поверхности и содержащего рассматриваемую точку, к площади этого элемента.