1 Выбор источника и концентрации легирующей примеси, выбор схемы установки для процесса диффузии.
В качестве источника галлия применяют твердый Ga2O3. Процесс диффузии проводят в протоке транспортирующего газа-восстановителя, в качестве которого используют либо водород, либо оксид углерода. При нагревании до 1220oК Ga2O3 восстанавливается до легколетучего соединения Ga2O, пары которого переносятся в зону диффузии. Схема установки приведена на рисунке 1.1
Рисунок 1.1
Из условия задания начальная концентрация примеси составляет 1014см-3. Материал вводимой примеси – галлий. Предельная растворимость галлия в кремнии при температуре 1200оС составляет 1020см-3. Для осуществления процесса выберем концентрацию равную 1018см-3.
2 Расчёт зависимости коэффициента диффузии легирующей примеси от температуры.
Коэффициент диффузии при температуре диффузии определяется по формуле:
Значения коэффициента диффузии при температуре, близкой к 1000оС приведены в таблице 2.1 и на рисунке 2.1.
Таблица 2.1
Температура, оС |
925 |
950 |
975 |
1000 |
1025 |
1050 |
1075 |
D(T), 10-15см2/c |
1.685 |
3.310 |
6.329 |
11,797 |
21,469 |
38,196 |
66,518 |
Рисунок 2.1
3 Расчёт распределения концентрации примеси по глубине.
Расчёт распределения концентрации примеси ведётся по формуле:
Результаты расчётов приведены в таблице 3.1 и на рисунках 3.1 и 3.2.
Таблица 3.1
x, мкм |
N(x,t), 1018см-3 |
0 |
1.0 |
0.25 |
0.81562 |
0.5 |
0.63869 |
0.75 |
0.48023 |
1 |
0.34479 |
1.25 |
0.23492 |
Продолжение таблицы 3.1
x, мкм |
N(x,t), 1018см-3 |
1.5 |
0.15035 |
1.75 |
0.08857 |
2.0 |
0.04576 |
2.25 |
0.01761 |
2.5 |
0.00006 |
Рисунок 3.1
Рисунок 3.2
4 Определение требуемого времени для формирования p-n перехода на глубине 2.5мкм.
Определить время, для получения p-n перехода можно по формуле:
Также время можно определить графически, построив несколько графиков распределения концентрации в логарифмическом масштабе (рисунок 4.1).
Рисунок 4.1
Время диффузии, для получения p-n перехода на глубине составляет 5050с.
5 Выбор метода, схемы установки и определение параметров процесса нанесения плёнки диоксида кремния.
Одним из методов формирования окисла является термическоеокисление в потоке сухого кислорода. Схема установки приведена на рисунке 5.1, где 1 — термостат; 2 — резервуар с трихлорэтиленом; 3 — пластины; 4— реакционная камера.
Зависимость роста толщины окисла кремния от времени tи температуры при нормальном давлении приведена на рисунке 5.2
Рисунок 5.1
Рисунок 5.2
Из графиков можно определить температуру и время, необходимые для формирования окисной плёнки толщиной 0,55мкм.
T=1573К
t=9900c
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.