Автоматическая телефонная станция квазиэлектронной системы «Квант». Принципы системного построения АТСКЭ «Квант», страница 15

Замена ТЭЗа МПП производится при выключенном питании 12 В проверяемого БЗУ.

Практическая часть

Автономный тест «Комбайн» может быть на перфоленте или на ТЭЗе HЗТ. Адрес активизации теста с ТЭЗа НЗТ − 64000. Перед запуском теста ЗУ память должна быть проверена программой «Выравнивание ЗУ».

Например:

УК − 1М /ОМ/ на ПИНе высвечивается светодиод 1М /ОМ/;

60080 УК − СА − УК − Т /76000/ − УК − АВ;

ПО − 00021 − УК − Т − УК − ЗА − УК − ЧТ − /740FF/;

64000 − УК − СА − УК − Т /76000/ − 7К − АВ.

По окончании проверки через 4−5 минут на ПИНе высвечивается останов 711CF. Останавливаем тест: УК − Т − УК − ЗА − УК − ЧТ. Читаем ячейку 00053: 00053 − УК − ЗА − УК − ЧТ. На ПИНе − 00002.

Можно сделать вывод, что при проверке памяти  обнаружены 2 неисправные микросхемы. Координаты неисправных микросхем ориентировочно определяем, перечитав содержимое итоговых ячеек 00044, 00045. Для этого с ПИНа делаем операции:

00044 − УК − ЗА − УК − ЧТ − на ПИНе высвечивается содержимое ячейки 00044, например 00000, т. е. можно сделать вывод, что в 1−4-м дополнительных блоках неисправности нет.

00045 − УК − ЗА − УК − ЧТ − на ПИНе высвечивается содержимое ячейки 00045, например 00010, т.е. обе неисправные микросхемы находятся в 0-й линейке 6-го дополнительного блока. Нужно с ПИНа прочитать ячейку, контролирующую информационные разряды 0-й линейки 6-го дополнительного блока и ячейки, контролирующие биты четности старшего и младшего байтов, т. е. ячейки 00034, 00041, 00043:

00034 − УК − ЗА − УК − ЧТ на ПИНе − 02000, т. е. обнаружена одна неисправная микросхема (бит «В»), ищем другую:

00041 − УК − ЗА − УК − ЧТ на ПИНе − 00000, т. е. бит четности младшего байта в 0-й линейке 6-го дополнительного блока исправен.

00043 − УК − ЗА − УК − ЧТ на ПИНе − 00010, т. е. неисправна микросхема четности старшего байта 0-й линейки 6-го дополнительного блока. Таким образом, обнаружены координаты обоих микросхем, следовательно, можно заменить неисправный ТЭЗ МПП исправным, выключив питание 12 B.

Затем можно повторить проверку 6-го дополнительного блока, изменив в тесте количество проверяемых блоков:

УК − Т − УК − ЗА − УК − ЧТ;

77330 − УК − ЗА − 0003F − УК − ЗП;

60080 − УК − СА − УК − Т /76000/ − УК − АВ;

ПО − 00021 − УК − Т − УК − ЗА − УК − ЧТ;

64000 − УК − СА − УК − Т − УК − АВ;

УК − Т − УК − ЗА − УК − ЧТ;

00062 − УК − ЗА − 00000 − УК − ЗП;

00063 − УК − ЗА − 00010 − УК − ЗП;

00110 − УК − СА − УК − Т /76000/ − УК − АВ.

Через несколько секунд, если ошибки нет, на ПИНе высветится останов 7110F.

Остановить работу теста:

УК − Т − УК − ЗА − УК − ЧТ.

Прочитать ячейку 00053:

00053 – УК – ЗА – УК – УК – ЧТ на ПИНе − 00000 т. е. неисправность при поверке ЗУ не обнаружена.

1.3 Исследование и анализ работы процессора

 с помощью автономных тестов

Для проверки работоспособности ЦУУ используются следующие автономные тесты:

- функциональный;

- двухмашинной работы.

Функциональный тест предназначен для проверки работоспособности процессора. Во время прохождения теста проверяется правильность исполнения всех команд и микропрограмм, а также обработка всех типов прерываний.

Тест занимает область адресов: 20000−200FF; 20200−22108.

Стартовый адрес – 20200. Адрес активизации с НЗТ − 62000.

При исправном процессоре до ручного останова теста с ПИНа циклически распечатывается фраза:

функциональный тест проверяет работу ЦУУ «VEF».

Практическая часть

Рассмотрим порядок работы с функциональным тестом:

1 Память ЗУ машины предварительно должна быть проверена одним из тестов ЗУ.

2 Программа теста ЗУ должна быть «стерта» программой «Выравнивание ЗУ» и остановлена работа машины.

Например: подключена к ПИНу нулевая машина:

УК – ОМ − /высвечивается светодиод ОМ/

УК – Т – УК – ЗА – УК – ЧТ;

60080 – УК – СА – УК – Т /76000/ − УК – АВ;

ПО – 00021;

УК – Т – УК – ЗА УК – ЧТ;

64000 – УК – СА – УК – Т /76000/ − УК – АВ;

ПО – 711СF;

УК – Т – ЗА – УК – ЧТ;

60080 – УК – СА – УК – Т /76000/ − УК – АВ;

ПО – 00021;

УК – Т − УК – ЗА – УК – ЧТ.