Измерения шероховатости поверхности методом светового сечения на двойном микроскопе

Страницы работы

1 страница (Word-файл)

Содержание работы

Обработка результатов испытаний

Протокол. Измерения шероховатости поверхности методом светового сечения на двойном микроскопе.

Технические и метрологические данные

Тип прибора – Двойной микроскоп МИС-П

Цена деления i=0,57 мкм

Предел измерений

Формула определения цены деления окулярного микрометра.        

Где Z– число делений шкалы объект – микрометра, пройденных перекрестием окулярного микрометра; m – цена деления шкалы барабана объект-микрометра;

N -  разность отсчетов по шкале барабана, полученных при двух совмещениях перекрестия, выраженная в делениях барабана;

Цифра 2 в знаменателе формулы учитывает наклон тубуса под углом 45°, а также то обстоятельство, что при измерении детали окулярный микрометр поворачивают на угол  45°.

nn

Первый отсчет по окулярному микрометру N1

Второй отсчет по окулярному микрометру N2

Разность отсчетов

Высота, мкм

1▼▼4

51.5

110

59.9

34.14

2▼▼5

52

81

29

16.53

3▼▼6

22

41

19

10.83

4▼▼7

42

55

13

7.41

5деталь

12

33

21

11.97

6линейка

3

879

876

Для детали, исходя из таблицы значений для параметра,

Контрольные вопросы.

1.Парамеиры шероховатости.

А)среднее арифметическое из абсолютных значений отклонения профиля. ()

Б)сумма средних значений абсолютных высот в пределах базовой длины .  ()   

В)наибольшая высота неровностей профиля . ()             

Г)средний шаг неровностей профиля. ()            

Д)средний шаг неровностей профиля по вершинам. ()

Е)относительная опорная длина профиля. ()     

2.Шаговые параметры шероховатости.

,

3.Высотные параметры шероховатости.

,,

4.Методы оценки шероховатости.

4.5 Качественный метод оценки.

Основан на сравнении обработанной поверхности с образцами шероховатости поверхности.

4.6 Количественный метод оценки.

Основан на измерении параметров шероховатости специальными приборами.

7.Принцип действия профилографа.

основан на ощупывании исследуемой поверхности алмазной иглой с радиусом закругления 10мкм и преобразования колебаний иглы в соответствующие колебания напряжения.

8.Принцип работы микроскопа МИС-П

Световой пучок проходит узкую щель и направляется в объектив, который образует на поверхности контролируемой детали изображение щели, представляющее собой узкую полосу . Под влиянием неровностей поверхности световая полоса искривляется в соответствии с их формой и образует световое свечение профиля поверхности. Величину шероховатости определяют визуально с помощью окулярного микрометра.

Похожие материалы

Информация о работе