отсутствие реакции на один или более входных сигналов элемента;
- медленное изменение выходного сигнала элемента после изменения входного, вызванное, например, старением или ухудшением усиления;
- перемежающиеся ошибки, появляющиеся однократно или через большие интервалы времени, вызываемые помехами, плохим контактом, перегревом элементов, большим разбросом величин задержек логических элементов в цепях с критическими временными соотношениями.
Очевидно, что неисправности последней группы являются наиболее сложными для обнаружения.
При решении практических задач обычно ограничиваются моделью константных неисправностей, хотя она учитывает не все возможные виды неисправностей. Константная неисправность представляется фиксированием входа или выхода логического элемента в состояние, соответствующее логическим “0” или “1”.
Если схема содержит n элементов, то любой элемент может находиться в одном из трех состояний: исправное состояние, константная неисправность, соответствующая состоянию логического нуля или логической единицы. Таким образом, число возможных состояний схемы равно 3n . В связи с этим, затраты времени на моделирование такого числа неисправностей очень велики. В связи с этим на практике обычно делают допущение об отсутствии на рассматриваемом временном интервале неисправностей двойной или более кратности и ограничиваются рассмотрением одиночных константных неисправностей.
Опыт, в целом, подтвердил адекватность допущения об одиночной константной неисправности. хотя, применительно к БИС и СБИС это может привести к некоторым проблемам. Тесты, ориентированные на выявление одиночных константных неисправностей, позволяют выявлять более 90% неисправностей других типов.
1.3. Оценка тестопригодности схем
Неформально тестопригодность схем можно определить как возможность выполнения процедур генерации множества тестовых наборов, оценки их эффективности и реализации тестового диагностирования при заданных затратах времени и средств.
Существует два пути количественной оценки тестопригодности проектируемой схемы, которые могут использоваться до выполнения процедур генерации тестов и оценки их полноты, представленные счетными и алгоритмическими методами.
Счетные методы основаны на выявлении особенности схемы, которые либо улучшают, либо ухудшают тестопригодность. Каждая характеристика задается некоторым числом показателей, представляющих степень ее влияния на тестопригодность. Установив перечень таких характеристик, можно подсчитать все множество показателей, улучшающих и ухудшающих тестопригодность проектируемой схемы. Эти две оценки могут комбинироваться для получения одной оценки тестопригодности.
Достоинства счетных методов:
- простота реализации,
- возможность оценки влияния различных конструкторско-технологических
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.
