Лабораторная работа №4
Студента ЗВФ гр. Рз-51 Рашкина А.Н.
Анализ конструкции ЗУ на ЦМД.
Цель работы: изучение работы ЗУ на ЦМД как устройств функциональной электроники, а также знакомство с его организацией и конструктивно-технологическим решением основных элементов и узлов.
Вариант 3.
1. Выбираем в соответствии с таблицей 4.4 отношение l/h.
l/h=0,23
2. По графикам функции F(d/h), So(d/h), S2(d/h) определяем диапазон значений d/h, проведя горизонтальную прямую из точки с заданным значением l/h до пересечения с кривыми So(d/h), S2(d/h), соответственно dо/h d2/h.
dо/h =0,88 и d2/h=2,6
3. Восстановим перпендикуляр из точек dо/h d2/h до пересечения с кривой F(d/h), определим значения F(dо/h) и F(d2/h).
F(dо/h) = 0,51 и F(d2/h) = 0,9
4. По найденным значениям, используя уравнение (1) находим значение критических полей Ho/M b H2/M, а затем среднее значение Нб/М
l/h+ (d/h)(Н/М) - F(d/h)=0 (1)
Н/М=(F(d/h)- l/h)/ (d/h) (2)
Ho/M= =(F(dо/h)- l/h)/ (dо/h)= (0,51-23)/0,88=0,318
H2/M= =(F(d2/h)- l/h)/ (d2/h)= (0,9-0,23)/2,6=0,257
Нб/М=(Ho/M +H2/M)/2=(0,318+0,257)/2=0,287
5. На построенном графике проведем прямую из точки, соответствующей величине l/h. Тангенс угла наклона м равен
F(d/h)=arctg(0,287)=16,03
По номинальному значению Нб/М определяем номинальное значение d/h. Для этого проводим до пересечения с функцией прямую с наклоном arctg (Нб/М).
d/h=2,21
6. Выбираем конкретное значение толщины пленки h=2мкм. По значению h определяем необходимые значения l, d (определяются диапазон значений и номинальная величина):
l =0,19*2=0,38мкм
dо=0,55*2=1,1 мкм
d2=1,85*2=3,7 мкм
d=1,15*2=2,3 мкм
7. Выбираем оптимальные значения А (постоянная обменного взаимодействия), Q (фактор качества) и далее по формулам определяем значение Кодн (постоянная одноостной анизотропии), М (намагниченность насыщения).
А=2,2*10-12Дж/м3
Q=3,2
Кодн =4*9,4*2,2*10-12/0,1444=1,46*103 Дж/м3
М=27,9*103 А/м
Определяем значение поля смещения Нб и поля управления Нупр:
Нб=0,442*27,9*103 =12,33*103 А/м
Нупр=0,06*27,9*103+10=16,74 А/см
8. Выбираем материал для монокристаллической пленки феррит-граната (МПФГ).
В качестве пленки МПФГ больше всего подходит материал
Состав |
L,мкм |
М,кА/м |
Q |
Тн,К |
H,мкм |
Но,кА/м |
Нот,%/К |
Sm0,59Lu0,35Y1,46Ca0,73Ge0,88Fe4,00O12 |
0.19 |
27.9 |
3,2 |
480 |
2,2 |
15,9 |
Вывод: в результате проделанной работы была изучена работа ЗУ на ЦМД как устройства функциональной электроники. В соответствии с вариантом задания были определены диапазон значений диаметра ЦМД, номинальный диаметр ЦМД и характеристическая длина материала. Рассчитан Кодн постоянная одноостной анизотропии, намагниченность насыщения М, значение поля смещения Нб и поля управления Нупр. По рассчитанным значениям был подобран соответствующий материал.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.