3. Зарегистрировать спектры пропускания активного элемента лазера и лазерного зеркала. Записать спектры в ячейки 2, 3 и распечатать их вместе с опорным спектром.
Пользуясь режимами “Поглощение” и “Отражение” рассчитать спектры αλ = f (λ) поглощения AЭ и отражения ρλ = f (λ) лазерного зеркала и распечатать их.
4. Исследовать и распечатать истинные спектры неоновой лампы, ртутной лампы низкого давления, ртутной люминесцентной лампы низкого давления, ртутной лампы сверхвысокого давления.
5. Исследовать по указанию преподавателя спектральные характеристики излучения, пропускания, отражения и поглощения других источников и оптических элементов.
6. Включить ртутную лампу низкого давления и установить счетчик длин волн монохроматора в положение 400 нм. Поочередно устанавливая парные входную и выходную щели монохроматора, для диапазона длин волн λ = 400 … 480 нм снять зависимость Δλ0,5 = f (d), где Δλ0,5 – ширина линии излучения, измеренная на половинном уровне интенсивности, а d = 0,05; 0,25; 1,0 и 3,0 мм. Для удобства определения Δλ0,5 следует выбрать режим “Выбор спектра”, подрежим “Приведение”.
7. При регистрации спектров с помощью самопишущего прибора коэффициент усиления ФПУ устанавливается вручную в соответствии с приложением к лабораторной установке. Направление перемещения счетчика должно задаваться от начальной длины волны исследуемого диапазона к ее конечной длине. Включение приводов монохроматора и самопишущего прибора должно производиться синхронно. На диаграммной ленте необходимо делать отметки, соответствующие границам диапазона исследования. Определение половинной интенсивности линий для нахождения Δλ0,5 рекомендуется делать вручную с помощью цифрового вольтметра. Вся необходимая обработка спектров также производится вручную.
1. Цель, содержание работы и схема экспериментальной установки.
2. Редуцированный опорный спектр лампы накаливания для U = U1 и истинные спектры лампы накаливания для трех режимов.
3. Редуцированные спектры пропускания активного элемента лазера и лазерного зеркала.
4. Рассчитанные спектральные функции αλ = f (λ) поглощения AЭ и отражения ρλ = f (λ) лазерного зеркала.
5. Спектральные характеристики излучения, пропускания, отражения и поглощения других дополнительных источников и оптических элементов, исследованных по указанию преподавателя.
6. График зависимости Δλ0,5 = f (d).
8. Выводы по работе и протокол испытаний.
Контрольные вопросы
1. Как влияет температура на спектр излучения нагретых тел?
2.Как отличаются спектры излучения абсолютно черных, серых и селективных нагретых тел?
3. Как влияет на спектр излучения газового разряда повышение давления, температуры и тока?
4. Чем определяется ширина линии излучения, регистрируемая в эксперименте?
5. Что такое истинный и индуцированный спектры?
6. Чем определяется разрешение монохроматора?
7. Как влияют свойства фотоприемника на результаты регистрируемых оптических спектров?
8. Чем определяется и как рассчитывается спектральная функция отражения лазерного диэлектрического зеркала ρλ = f (λ)?
9. Чем определяется и как рассчитывается спектральная функция отражения металлического зеркала ρλ = f (λ)?
10. Чем определяется и как рассчитывается спектральная функция поглощения активного элемента лазера αλ = f (λ)?
11. Чем определяется и как рассчитывается спектральная функция пропускания τλ = f (λ) сорбционного фильтра?
12. Чем определяется и как рассчитывается спектральная функция пропускания τλ = f (λ) интерференционного фильтра?
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.