8. Расчет надежности устройства.
Расчет надежности произведем по среднегрупповым интенсивностям отказов элементов:
1. Все элементы системы разбиваются на группы примерно с одинаковыми интенсивностями, и подсчитывается число элементов в каждой группе -Ni;
2. Выбирается интенсивность отказов для группы элементов Ni - li;
3. Вычисляется Ni´li, характеризующее долю отказов, вносимых элементами каждой группы в общую интенсивность отказов системы.
4. Подсчитывается общая интенсивность отказов путем суммирования Ni´li по всем группам элементов l;
5. Определяется наработка на отказ T0=1/l;
6. Определяется безотказность работы аппаратуры R(t)=е-lt.
Табл. 8.1
тип |
наименование |
Количество,
|
||
Резисторы |
Р1-12 |
25 |
0,015 |
0,375 |
Диоды |
С2DF |
10 |
0,012 |
3,2 |
Конденсаторы |
МURATA |
30 |
0,060 |
6 |
Индуктивности |
P0544NL Pulse Electronics |
9 |
0,055 |
0.495 |
Операционные усилители |
К551УД1 |
2 |
1,565 |
3.13 |
трансформаторы |
P0584 Pulse Electronics |
1 |
1,385 |
1.385 |
транзисторы |
8 |
2,746 |
21,968 |
Общая интенсивность отказов системы:
(1/ч)
Интенсивность отказов полных соединений принимается 20% от общей интенсивности отказов системы:
(1/ч)
Общая интенсивность отказов:
(1/ч)
Наработка на отказ:
часов
Вероятность безотказной работы системы:
При изменении t от 100 до 20000 часов работы, получим следующие значения вероятностей безотказной работы системы:
t, час |
100 |
200 |
500 |
2500 |
5000 |
10000 |
13000 |
15000 |
17000 |
20000 |
P(Т) |
0.99 |
0.98 |
0.965 |
0.92 |
0.87 |
0.7 |
0.59 |
0.46 |
0.34 |
0.25 |
Табл. 8.2
Рис 8.1
Таким образом, был произведён расчёт наработки на отказ, которая составляет 23255,81 часов, что полностью удовлетворяет техническому заданию (не менее 20000 часов).
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.