Примечание. Выражение (2) является универсальным и
пригодно для плоских, цилиндрических и сферических экранов. Разница состоит
лишь в величине волнового сопротивления, которое оказывает диэлектрическая
среда (воздух) различным видам поля. Для плоской волны  , для циклической
волны
 , для циклической
волны  .
.
Для большинства практически используемых экранов(при N>1/N) степень экранирования плоского, цилиндрического экранов в переменном магнитном поле будет выражаться примерно следующим соотношением:
kэп · kэц · kэс = 3 · 3/2 · 1,
где kэп, kэц, kэс – степень экранирования для плоского, цилиндрического и сферического экранов соответственно.
Это соотношение справедливо для экранов, изготовленных из
одинакового металла и с равными толщинами стенок, причём расстояние между
параллельными стенками экрана равно диаметру сферического и цилиндрического
экранов т.е. 
Степень экранирования сферических экранов в магнитостатическом режиме для постоянного поля и в низкочастотной области (при k ≤ 0,3) определяется выражением

где  - относительная магнитная проницательность,
полученная из кривой намагничивания (рис. 2)
 - относительная магнитная проницательность,
полученная из кривой намагничивания (рис. 2)
 Для экранирования постоянного магнитного поля степень
экранирования плоского, цилиндрического и сферического экранов будет выражаться
следующим соотношением:
Для экранирования постоянного магнитного поля степень
экранирования плоского, цилиндрического и сферического экранов будет выражаться
следующим соотношением:
kэп · kэц · kэс = 1 · 2 · 3, где kэп, kэц, kэс – степень экранирования для плоского, цилиндрического и сферического экранов соответственно.
Рис . 2.
методика экспериментального определения коэффициента экранирования
В работе коэффициент экранирования определяют по результатам
измерений потокосцепления внешнего (Ψ0) и внутреннего (Ψi) полей с
витками измерительной катушки, помещенной в поле сначала без экрана, затем в
экране. Так как значения Н0 и Нi прямо  пропорциональны
потокосцеплением Ψ0 и Ψi   , где w, S –
число витков и площадь (средняя) измерительной катушки, то опытные значения
коэффициента экранирования
, где w, S –
число витков и площадь (средняя) измерительной катушки, то опытные значения
коэффициента экранирования
При постоянном магнитном поле измерения величин Ψ0 и Ψi производят веберментром или магнитоэлектрическим баллистическим гальванометром. Постоянный поток изменяют в процессе измерения от + Ψ до – Ψ , т.е. производят двойное измерение потока.
При использовании баллистического гальванометра

где С Ψ - постоянная гальванометра по потокосцеплению;
        - показания гальванометра.
 - показания гальванометра.
Коэффициент экранирования

где  - показания гальванометра при изменении
внешнего поля.
 - показания гальванометра при изменении
внешнего поля.
 - то же, при измерении внутреннего
поля.
 - то же, при измерении внутреннего
поля.
При переменном поле величины Ψ0
и Ψi  прямопропорциональны действующим значениям напряжений на
зажимах измерительной катушки: без экрана ( ) и при наличии экрана (
) и при наличии экрана ( ). Как известно,
). Как известно, 

где w, S – число витков и площадь (средняя) измерительной катушки;
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.