Тестируемая микросхема и частота кварцевого резонатора. Инструкция оператору по проверке ИМС. Схема электрическая принципиальная тестера

УДК621.58

: ,

                     

Практическое руководство и задания для контрольной работы  по курсу «Однокристальные ЭВМ» для студентов спец. Т.07.02.00  «Промышленная электроника»   заочного   отделения – Гомель: ГГТУ им. П.О. Сухого, 2003. – 19 c.

Рецензент: к.т.н., доцент

ã Гомельский государственный технический университет им. П.О. Сухого

ЗАДАНИЕ НА КОНТРОЛЬНУЮ РАБОТУ

1. Исходные данные для выполнения контрольной работы

В контрольной работе студенту предлагается, пользуясь заданным алгоритмом (см. ниже), на базе ОЭВМ КМ1816ВЕ48 разработать прибор для тестирования интегральных цифровых микросхем (ИМС), составить машинный алгоритм функционирования данного устройства и по нему написать программу в операторах ассемблера МК48.

Для выполнения контрольной работы необходимо:

·  изучить рекомендуемую литературу;

·  определить свои исходные данные;

·  изучить алгоритм работы тестера ИМС;

·  составить обобщенную блок-схему алгоритма работы тестера ИМС;

·  разработать и начертить схему электрическую принципиальную тестера ИМС;

·  разработать детальные блок-схемы алгоритма работы тестера ИМС;

·  написать текст программы на языке ассемблера МК48 с комментариями;

·  определить адресное пространство, используемое программой – адреса ячеек         памяти данных и памяти команд.

Исходные данные для выполнения контрольной работы определить по двум последовательным цифрам учебного шифра студента (номер его зачетной книжки).

Две крайние справа цифры указывают на номер тестируемой микросхемы, а их сумма – на вариант частоты кварцевого резонатора.

Тестируемая микросхема и частота кварцевого резонатора выбирается соответственно из табл. 1 и табл. 2, которые приведены ниже.

Например, имея учебный шифр ЗПЭ-890372, студенту для выполнения контрольной работы следует выбрать следующие исходные данные:

Тестируемая ИМС: № 72 — К155ТВ15.

Частота кварцевого резонатора: № 9 (7+2) — f_BQ=2.4МГц.

Портативный прибор для тестирования цифровых интегральных микросхем (ИМС) должен выполнять функциональный (не параметрический) контроль ИМС по принципу  «годен / не годен». Для подключения к тестеру ИМС имеется панель (сокет) для корпусов ИМС типа DIP с 14, 16, 20 выводами.

Инструкция оператору по проверке ИМС:

1.  Включить электропитание тестера, при этом загорается индикатор с надписью «ГОТОВ».

2.  Вставить тестируемую ИМС в сокет тестера.

3.  Нажать кнопку с надписью «ТЕСТ». При нажатии кнопки «ТЕСТ» подается электропитание на тестируемую ИМС и выполняется программа тестирования ИМС.

4.  Пронаблюдать результат тестирования по соответствующим индикаторам «НОРМА», «БРАК».

5.  Нажать кнопку «СБРОС» для перевода тестера в исходное состояние (при этом отключается электропитание от тестируемой ИМС).

При установке или при извлечении ИМС из сокета все линии портов должны быть либо настроены на ввод, либо переведены в z-состояние.

После подачи электропитания на тестируемую ИМС задержка до начала тестирования должна составлять 20..50 мс.

Индикатор тестера ИМС реализуется на трех светоизлучающих диодах, которые имеют надписи: «ГОТОВ», «НОРМА», «БРАК».

2. Требования к оформлению контрольной работы

Контрольная работа выполняется в тонкой тетради. На первой странице обязательно следует поместить все исходные данные с указанием учебного шифра студента. Несоблюдение этих требований служит основанием для возвращения контрольной работы.

В контрольной работе должны быть выполнены все пункты задания.

Электрическая принципиальная схема, блок-схема алгоритма работы тестера ИМС должны быть изображены с использованием ЭВМ или чертежных принадлежностей.

Программа приводится в форме следующего примера.

ORG 470H

LBYTE: EQU 00H

HBYTE: EQU 10H

;

;****************************************

;-----------------SUB16-----------------;программа вычитания целого 2-байтного

;числа из числа 1000Н (4096)

;вычитаемое: (R6, R7)

;результат: (R2, R3)

;****************************************

;

SUB16:    MOV A,#LBYTE ;(A)=00H

CPL A        ;инверсия младшего байта уменьшаемого

ADD A, R7    ;(A)=(A)+(R7)

CPL A        ;инверсия суммы

MOV R3, A    ;сохранение младшего байта результата

MOV A,#HBYTE ;(A)=10H

CPL A        ;инверсия старшего байта уменьшаемого

ADDC A, R6   ;(A)=(A)+(R6)+CY

CPL A        ;инверсия суммы

MOV R2, A    ;сохранение старшего байта результата

STOP:     JMP STOP     ;останов

END

3. Содержание контрольной работы

1.  Задание на контрольную работу.

2.  Описание тестируемых ИМС (описание работы ИМС; условное обозначение и цоколевка, структура ИМС; таблицы состояний и временные диаграммы работы ИМС).

3.  Обобщенная блок-схема алгоритма работы тестера ИМС (блок-схема алгоритма работы тестера).

4.  Схема электрическая принципиальная тестера (расчет и выбор элементов схемы).

5.  Разработка программы работы ОЭВМ тестера.

5.1. Расчет длительностей временных задержек.

5.2. Разработка детальной блок-схемы алгоритма тестирования ИМС.

5.3. Программа на языке ассемблера МК48 (комментарии обязательны!).