Ознакомление с принципами работы, конструкцией, особенностями устройства спектрометра, страница 9

,

где Ci, Cj, Ck- содержания элементов i, j и k в анализируемом образце;

Cjst, Ckst - то же в гипотетическом стандартном образце;

Ii, Ij - относительные интенсивности аналитических линий контролируемых элементов по отношению к реперному образцу;

I = J/Jp,

где J - абсолютная скорость счета исследуемого образца;

Jp - абсолютная скорость счета реперного образца;

Kij, Bii, wijk - теоретически рассчитанные для гипотетического образца коэф­фициенты влияния (поправочные коэффициенты), учитывающие поглощение пер­вичного и флуоресцентного излучения образцом, дополнительное возбуждение и поглощение избирательно возбуждающего излучения матрицей образца.

a0, aj, aij - эмпирические коэффициенты, учитывающие аппаратурные фак­торы (фон, коэффициент чувствительности, наложение спектральных линий) и эф­фекты второго порядка; эти коэффициенты определяют в ходе градуировки по об­разцам известного состава методом наименьших квадратов.

При анализе расчет содержаний выполняется совместным решением сис­темы уравнений для всех контролируемых элементов методом последователь­ных приближений.

Предложенное уравнение (и другие уравнения этого способа) наиболее полно учитывает межэлементные влияния и аппаратурные факторы и позволяет использовать упомянутые выше способы анализа, в т.ч. и способ стандарта-фона, который реализуется , если одна из Ij измерена на линии когерентного (или некогерентного) рассеяния анодной линии (или тормозного спектра).

Уже много лет считается перспективным способ фундаментальных параметров, в котором решается обратная задача: расчет содержаний по наиболее общей формуле для интенсивностей рентгеновской флуоресценции:

Ii =F[m(С),w(С),y(С),p(С),v(С)].

            Интенсивность рентгеновской флуоресценции при постоянных условиях возбуждения представлена как функционал от влияющих факторов: поглощение первичного и флуоресцентного излучения пробой m(С), избирательное возбуждение w(С), влияние полихроматичности первичного излучения y(С), эффекты возбуждения рассеянным излучением p(С), эффекты более высоких порядков v(С).

Способ для реализации требует мощных быстродействующих ПЭВМ, что в последнее время реализуется и имеются практические примеры реализации этого способа в методическом обеспечении рентгеноспектральных приборов.

В рамках какого-либо способа анализа реализуется методика анализа или как принято сейчас говорить Методика выполнения измерений (МВИ). Выбор способа анализа зависит от исторически сложившийся у разработчика МВИ практики (практически любой способ анализа может решить поставленную аналитическую задачу), от объекта анализа, от типа используемой аппаратуры и от требований к точности анализа; имеют значение также требования к экспрессности и производительности.

Объект анализа (и требования к точности анализа) практически всегда однозначно определяет способ подготовки проб к анализу (РСА). Для сталей и сплавов подготавливается ровная поверхность (токарная, фрезерная или шлифованная), для порошков насыпают кюветы, сплавляют с плавнем или прессуют таблетки (со связующим или без). Жидкие пробы анализируют в специальных кюветах или для определения тяжелых металлов (и других элементов) выпаривают, пропускают через сорбционные фильтры, проводят соосаждение с реагентом, пропитывают (накапывают на) пористый материал, фильтровальную бумагу или на гладкую поверхность для специальных методов РСА (полное внешнее отражение).

Собственно содержание МВИ определялся старым ГОСТ 8.010-90, который и установил текст документа и порядок его утверждения. Новый ГОСТ 96 года сохранил существующий порядок.