Для проведения термических операций в производстве ФЭП все большее применение находят печи с быстрой термической обработкой (RTP печи). В RTP печах тепло от источника передается излучением. В качестве источника тепла используются оптические лампы с коротковолновым диапазоном излучения, имеющие пик в области 0,2-1,0 мкм. При обработке в RTP печах кремниевых пластин, избирательно поглощающих излучение, происходит их нагрев, в то время как окружающие детали оборудования остаются относительно холодными. Обычная скорость обработки в RTP печах составляет 50-300 °С/сек. Диффузия примеси при формировании эмиттера в RTP печи осуществляется за очень короткое время - менее 1 мин. В результате образуются p-n переходы с глубиной залегания 0,15-0,25 мкм. Такие неглубокие переходы обычно реагируют в диапазоне 420-460 нм, если фронтальная поверхность элемента достаточна пассивирована. Хорошие результаты были получены с двукратным осаждением легирующего вещества с двумя различными концентрациями фосфора и одним отжигом в RTP печи. При этом высоколегированная область имела концентрацию фосфора 1020 атомов/см3, а низколегированная область – 3х109 атомов/см3 [3]. Такой излучатель прекрасно подходит для трафаретной металлизации при экономически эффективном производстве солнечных элементов
Лучшие результаты по эффективности ФЭП из монокристаллического и поликристаллического кремния, полученные с использованием селективного эмиттера, отжига в RTP печи и металлизацией контактов трафаретной печатью, приведены в таблице 2.
Таблица 2 Характеристики солнечных элементов из монокристаллического и поликристаллического кремния площадью 100см2 [3].
Подложка |
Isc, [mA/ см2] |
Uoc, [mV] |
FF, [%] |
КПД, [%] |
моно-Si |
36,0 |
617 |
78 |
17,3 |
поли- Si |
34 |
595 |
76 |
15,3 |
Оптимизация процессов, связанных с пассивацией поверхности – одно из направлений развития технологии получения высокоэффективных элементов. Как известно, кремниевые пластины чувствительны к высоким температурам при сухом окислении в печи, поэтому поверхность элементов может пассивироваться посредством осаждения оксидов из газовой фазы при более низких температурах. Отличная пассивация фронтальной поверхности получается путем применения просветляющего покрытия PECVD3 – SiNх с одновременным отжигом металлического контакта.
Перечисленные выше совершенствования технологии трафаретной печати: просветляющее покрытие Si3N4, текстурирование поверхности подложки, одноэтапное селективное легирование позволили получить показатели эффективности ФЭП[3]:
- 16,3-16,8% для поликристаллического кремния,
- 17,9-18% для монокристаллического кремния
Совершенствование элементов со скрытым контактом. Совершенствование технологии элементов со скрытыми контактами было направлено на создание структуры с контактами p и n типа на задней стороне пластины. Благодаря новой структуре повышается уровень автоматизации сборки модуля и уменьшается затенение фронтальной поверхности. В настоящее время разработаны 2 новые структуры фотоэлектрических преобразователей под названиями:
1) FMWT – фронтальная металлизация через отверстие,
2) MWA – металлизация через края пластин.
В новых структурах электрические шины расположены на тыльной стороне, а узкие полоски контактной сетки остаются с фронтальной стороны пластины и соединяются с шинами через отверстия 1) или металлизированные края пластин 2). ФЭП, имеющие структуры типа FMWT и MWA имеют параметры аналогичные параметрам стандартных ФЭП с возможностью увеличения фактора заполнения. В таблице 3 представлены лучшие результаты солнечных элементов со структурами FMWT и MWA [5].
Таблица 3 Параметры солнечных элементов с задним контактом площадью 100мм2
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.