Тестируемая микросхема и частота кварцевого резонатора. Инструкция оператору по проверке ИМС. Схема электрическая принципиальная тестера, страница 3

Номер

варианта

fBQ, МГц

Номер

варианта

fBQ, МГц

00

5,8

10

4,2

01

4,4

11

6,0

02

2,5

12

2,8

03

5,6

13

5,0

04

3,0

14

3,8

05

4,8

15

2,6

06

2,0

16

4,0

07

1,8

17

5,2

08

3,3

18

3,6

09

2,4


ОБРАЗЕЦ ВЫПОЛНЕНИЯ КОНТРОЛЬНОЙ РАБОТЫ

1. Задание на контрольную работу

Необходимо разработать портативный прибор для тестирования цифровых интегральных микросхем (ИМС). Тестер должен выполнять функциональный (не параметрический) контроль ИМС по принципу   «годен / не годен». Для подключения к тестеру ИМС имеется панель (сокет) для корпусов ИМС типа DIP с 14, 16, 20 выводами.

№ зачетной книжки –……….

Тестируемая ИМС – К155ЛА1.

Частота кварцевого резонатора – 5 МГц.

2. Описание тестируемой ИМС

Микросхема К155ЛА1 – элемент 2´4И – НЕ [6, 7]. Тип корпуса – DIP-14. Цоколевка ИМС К155ЛА1 показана на рис. 1.

Электрические параметры

ИМС К155ЛА1:

Iвых0 =16 мА;

Iпот= 4 мА;

Iпот= 11 мА;

tзд.р0,1 = 22 нс;

tзд.р1,0 = 15 нс.

 
 


Рис. 1. Цоколевка ИМС К155ЛА1

На основании логических соотношений Q1=NOT(A1*B1*C1*D1) и Q2= NOT(A2*B2*C2*D2) можно составить для тестируемой микросхемы таблицу истинности в виде:

состояния

A1

B1

C1

D1

A2

B2

C2

D2

Q1

Q2

1

0

0

0

0

0

0

0

0

1

1

2

0

0

0

1

0

0

0

1

1

1

3

0

0

1

0

0

0

1

0

1

1

4

0

0

1

1

0

0

1

1

1

1

5

0

1

0

0

0

1

0

0

1

1

6

0

1

0

1

0

1

0

1

1

1

7

0

1

1

0

0

1

1

0

1

1

8

0

1

1

1

0

1

1

1

1

1

9

1

0

0

0

1

0

0

0

1

1

10

1

0

0

1

1

0

0

1

1

1

11

1

0

1

0

1

0

1

0

1

1

12

1

0

1

1

1

0

1

1

1

1

13

1

1

0

0

1

1

0

0

1

1

14

1

1

0

1

1

1

0

1

1

1

15

1

1

1

0

1

1

1

0

1

1

16

1

1

1

1

1

1

1

1

0

0