Обобщенная блок-схема алгоритма работы тестера ИМС (блок-схема алгоритма работы тестера). Разработка детальной блок-схемы алгоритма тестирования ИМС, страница 10

REPEAT:    MOV      A, R0             ; Пересылка входного кода в аккумулятор

RL          A                        ; Сдвиг аккумулятора влево

ANL      A, #00011000B   ; Выделить разряды кода D1, C1

MOV     20H, A                 ; Переслать D1, C1 в ячейку 20Н

MOV      A, R0                  ;  Переслать в аккумулятор входной код

ANL      A, # 00000011B  ; Выделить разряды кода В1, А1

ORL      20H, A                 ; Объединить разряды кода D1, С1,В1, 

; А1 в ячейке  20Н

SETB    20H.5                  ;Установить 1 в 5-м разряде ячейки 20Н

MOV     P1, 20H             ; Вывести код D1- А1 в порт Р1 (подать

;  на входы ИМС)

JNВ       P1.5, EXIT           ; Выход, если P1.5=0, т.е. на выходе

; ИМС   Q1= 0

MOV     P2, 20H             ; Вывести код D2- А2 в порт Р2 (подать

; на  входы ИМС)

JNВ       P2.5, EXIT           ; Выход, если P2.5=0, т.е. на выходе

;  ИМС   Q2= 0

INC       R0                        ; Инкремент входного кода

DJNZ     R2, REPEAT      ; Цикл тестирования, если (R2)0

MOV     20H, #0FFH         ; Загрузить в ячейку 20Н код "все

; единицы"

MOV     P1, 20H               ; Подать код на входы D1- А1 ИМС

JВ          P1.5, EXIT          ; Выход, если P1.5=1, т.е.  Q1= 1

MOV     P2, 20H               ; Подать код на входы D2- А2 ИМС

JВ          P2.5, EXIT          ; Выход, если P2.5=1, т.е.  Q2= 1

SETB    F0                        ; Установить флаг F0 < -1 (НОРМА)

SETB    P3.2                     ; Отключить питание ИМС

RET                                  ; Возврат из подпрограммы

EXIT:       CLR F0                          ; Сбросить флаг F0 < -0 (БРАК)

SETB    P3.2                  ; Отключить питание ИМС

RET                                ; Возврат

END                               ; Конец текста программы

Список литературы

1.  Интегральные микросхемы. Справочник / Б.В.Тарабрин, Л.Ф.Лунин, Ю.Н.Смирнов и др.; Под редакцией Б.В.Тарабрина. – М.: Радио и связь, 1983.

2.  Однокристальные микроЭВМ. Справочник/ А.В.Боборыкин, Т.П.Липовецкий и др. – М.: МИКАП, 1994.

3.  Резисторы, конденсаторы, трансформаторы, дроссели, коммутационные устройства РЭА. Справочник / Н.Н.Акимов, Е.П.Ващуков, В.А.Прохопенко, Ю.П.Ходоренко. – Мн.: Беларусь, 1994.

4.  Сташин В.В., Урусов А.В., Мологонцева О.Ф. Проектирование цифровых устройств на однокристальных микроконтроллерах. – М.: Энергоатомиздат, 1990.

5.  Цифровые интегральные микросхемы. Справочник / М.И.Богданович, И.Н.Грель, В.А.Прохоренко, В.В. Шалимо. – Мн.: Беларусь, 1991.

6.  Шило В.Л. Популярные цифровые микросхемы: Справочник. – М.: Радио и связь, 1988.

7.  Иванов В.И.,Аксенов А.И., Юшин А.М. Полупроводниковые оптоэлектронные приборы: Справочник. - Энергоатомиздат, 1989.

Содержание

	стр.
Введение……………………………………………………………	3
1. Задание на контрольную работу ………………………………	3
1.1. Исходные данные для выполнения работы ……………………	3
1.2. Требования к оформлению контрольной работы ……………	4
1.3. Содержание контрольной работы ……………………………	5
2. Методические указания по выполнению контрольной работы ..	7
3. Образец выполнения контрольной работы ……………………	12
3.1. Задание на контрольную работу ………………………………	12
3.2. Описание тестируемой ИМС …………………………………	13
3.3. Обобщенная блок-схема алгоритма работы тестера …………	14
3.4. Принципиальная схема тестера ……………………………	16
3.5. Разработка программы работы микроконтроллера …………	19
Список литературы …………………………………………………	27