Тестирование оперативных запоминающих устройств. Основные алгоритмы тестирования оперативных запоминающих устройств (ОЗУ)

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ РЕСПУБЛИКИ БЕЛАРУСЬ

УЧРЕЖДЕНИЕ ОБРАЗОВАНИЯ

ГОМЕЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМЕНИ П. О. СУХОГО

Факультет автоматизированных и информационных систем

Кафедра «Информационные технологии»

дисциплина «ЭВМ И ПЕРИФЕРИЙНЫЕ УСТРОЙСТВА»

ОТЧЕТ ПО ЛАБОРАТОРНОЙ РАБОТЕ №5

«Тестирование оперативных запоминающих устройств»

Выполнила: студентка гр. ИТ-32

Принял:

Гомель 2014

Цель работы: Изучить основные алгоритмы тестирования оперативных запоминающих устройств (ОЗУ)

2 ЗАДАНИЕ

1. Изучить теоретические сведения.

2. Разработать программу для моделирования константных неис-правностей, неисправностей взаимного влияния и кодочувствительных не-исправностей.

3. Разработать программу для моделирования работы маршевого тес-та.

4. Оценить время выполнения тестирования.

5. Подготовить отчет, который должен содержать цель, задание, краткие теоретические сведения, листинг программы, результаты работы программы, выводы по работе.

Листинг программы:

using System;

using System.Collections.Generic;

using System.Linq;

using System.Text;

using System.Threading.Tasks;

namespace _5lab

{

class Program

{

static void Main(string[] args)

{

int n = 10;

int m = 10;

bool[,] Oz = new bool[n, m];       

//алгоритм ^w0

for (int i = 0; i < n; i++)

{

for (int j = 0; j < m; j++)

{

Oz[i, j] = false;

}

}

Console.Write("\n^ w0\n");

for (int i = 0; i < n; i++)

{

for (int j = 0; j < m; j++)

{

if (Oz[i, j])

Console.Write("\nОшибка найдена в ячейке [" + i + ":" + j + "]\n");

else

Console.Write("0 ");

}

Console.Write("\n");

}

//алгоритм ^ r0 w1

bool flag = true;

for (int i = 0; i < n; i++)

for (int j = 0; j < m; j++)

{

for (int k = i; k < n; k++)             //проверяем матрицу

for (int l = j; l < n; l++)

if (Oz[k, l])

{

flag = false;               //ошибка найдена

Console.Write("\nОшибка найдена в ячейке ["+k+":"+l+"]\n");

}

Oz[i, j] = true;

}

Console.Write("\n^ r0 w1\n");

for (int i = 0; i < n; i++)

{

for (int j = 0; j < m; j++)

{

if (Oz[i, j])

Console.Write("1 ");

else

Console.Write("\nОшибка найдена в ячейке [" + i + ":" + j + "]\n");

}

Console.Write("\n");

}

//алгоритм V r1 w0

flag = true;

for (int i = n-1; i >= 0; i--)

for (int j = m-1; j >= 0; j--)

{

for (int k = i; k >=0; k--)             //проверяем матрицу

for (int l = j; l >=0; l--)

if (!Oz[k, l])

{

flag = false;               //ошибка найдена

Console.Write("\nОшибка найдена в ячейке [" + k + ":" + l + "]\n");

}

Oz[i, j] = false;

}

Console.Write("\nv r1 w0\n");

for (int i = 0; i < n; i++)

{

for (int j = 0; j < m; j++)

{

if (Oz[i, j])

Console.Write("\nОшибка найдена в ячейке [" + i + ":" + j + "]\n");

else

Console.Write("0 ");

}

Console.Write("\n");

}

Console.ReadKey();

}

}

}

Результат:

Вывод: Изучили основные алгоритмы тестирования оперативных запоминающих устройств (ОЗУ)