Общая интенсивность отказов резисторов равна:
λг=∑λэ=0,30838*10-6 1/ч
6.2 Интенсивность отказов конденсаторов
Интенсивность отказов конденсаторов определяется:
λэ=λ0КэКрКс
, где λэ–интенсивность отказов в рабочем режиме;
λ0–интенсивность отказов при Т=25° С и нормальной нагрузке;
Кэ–коэффициент зависящий от условий эксплуатации;
Кр–коэффициент режима;
Кс–коэффициент зависящий от номинальной емкости.
Таблица 6.2
Интенсивность отказов конденсаторов
№ п/п |
Тип |
λ0, 10-6 1/ч |
Кр |
Кэ |
Кс |
λэ, 10-6 1/ч |
А3,А4–предварительный усилитель |
||||||
1 |
К10-17а |
0,012 |
0,25 |
1 |
1,6 |
0,0048 |
2 |
К10-17а |
0,012 |
0,25 |
1 |
1,6 |
0,0048 |
3 |
К10-17а |
0,012 |
0,25 |
1 |
1,6 |
0,0048 |
4 |
К50-16 |
0,05 |
0,32 |
1 |
1 |
0,016 |
5 |
К50-16 |
0,05 |
0,32 |
1 |
1 |
0,016 |
6 |
К50-16 |
0,05 |
0,32 |
1 |
1 |
0,016 |
А5–блок питания |
||||||
1 |
К50-35 |
0,05 |
0,32 |
1 |
2 |
0,032 |
2 |
К50-35 |
0,05 |
0,32 |
1 |
2 |
0,032 |
3 |
К50-16 |
0,05 |
0,25 |
1 |
1 |
0,0125 |
4 |
К50-16 |
0,05 |
0,25 |
1 |
1 |
0,0125 |
5 |
К50-16 |
0,05 |
0,25 |
1 |
1 |
0,0125 |
6 |
К50-16 |
0,05 |
0,25 |
1 |
1 |
0,0125 |
А6,А7–усилитель мощности |
||||||
1 |
0,05 |
0,32 |
1 |
2 |
0,032 |
|
2 |
К50-16 |
0,05 |
0,25 |
1 |
1 |
0,0125 |
3 |
К50-16 |
0,05 |
0,25 |
1 |
1 |
0,0125 |
4 |
К10-17 |
0,05 |
0,32 |
1 |
0,86 |
0,014 |
5 |
К50-16 |
0,05 |
0,25 |
1 |
1 |
0,0125 |
6 |
К50-16 |
0,05 |
0,25 |
1 |
1 |
0,0125 |
7 |
К50-35 |
0,05 |
0,32 |
1 |
2 |
0,032 |
8 |
К50-35 |
0,05 |
0,32 |
1 |
2 |
0,032 |
Прочие |
||||||
1 |
БМТ2 |
0,05 |
0,32 |
1 |
2 |
0,032 |
Общая интенсивность отказов равна:
λс=∑λэ=0,5908*10-6 1/ч
6.3 Расчет интенсивности отказов микросхем
Интенсивность отказа микросхем определяется:
λD=λ0KслКэ
, где λD–интенсивность отказов в рабочем режиме;
λ0–интенсивность отказов при Т=25° С и нормальной нагрузке;
Ксл–коэффициент учитывающий степень интеграции и температуру кристалла (корпуса);
Кэ–коэффициент учитывающий условия эксплуатации.
Таблица 6.3
№ п/п |
λ0, 10-6 1/ч |
Ксл |
Кэ |
λD, 10-6 1/ч |
А3,А4–предварительный усилитель |
||||
1 |
0,9 |
1,25 |
1 |
1,125 |
А6,А7–усилитель мощности |
||||
1 |
0,9 |
2 |
1 |
1,8 |
Общая интенсивность отказов микросхем равна:
λD=∑λэ=2.925*10-6 1/ч
6.4 Расчет интенсивности отказов диодов и стабилитронов
Интенсивность отказов светодиодов определяется:
λэ=λ0КэКр
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.