Экзаменационные тесты по дисциплине "Теория и расчёт измерительных преобразователей и приборов", страница 3

2.  По заданному входному воздействию и выходному отклику рассчитать параметры схемы

3.  По заданным параметрам схемы рассчитать коэффициент передачи

4.  По заданному коэффициенту передачи рассчитать параметры схемы

5.  Найти связь входа и выхода

41. Под начальными условиями при моделировании понимаются…

1.  Напряжения во всех узлах схемы и токи во всех ее ветвях в начальный момент времени

2.  Только напряжения во всех узлах схемы в начальный момент времени

3.  Только токи во всех ветвях схемы в начальный момент времени

4.  Токи на входе и выходе схемы в начальный момент времени.

5.  Напряжения на входе и выходе схемы в начальный момент времени

42. Сложность математической модели устройства определяется, в основном,…

1.  Областью применения устройства

2.  Сложностью электрической схемы устройства

3.  Сложностью входного воздействия

4.  Массо-габаритными характеристиками устройства.

5.  Числом используемых физических эффектов

43. Анализом Фурье называют расчет…

1.  Спектра сигнала

2.  АЧХ цепи

3.  ФЧХ цепи

4.  Коэффициента гармоник.

5.  Постоянной времени

44. Под инерционными цепями понимают цепи, содержащие…

1.  Индуктивности или емкости

2.  Диоды

3.  Биполярные транзисторы

4.  Полевые транзисторы.

5.  Интегральные схемы БИС

45. Для проведения временного анализа в инерционных цепях необходимо все инерционные элементы заменить их математическими моделями, содержащими…

1.  Независимые источники тока или напряжения

2.  Зависимые источники тока или напряжения

3.  Диоды

4.  Шунтирующие сопротивления.

5.  Индуктивности интегральной схемы

46. Решение любой задачи оптимального проектирования в САПР начинается с выбора…

1.  Критерия оптимальности (целевой функции)

2.  Процедуры оптимизации

3.  Вида анализа

4.  Начальных условий.

5.  Управляемых параметров

47. Оптимальное проектирование в САПР измерительных устройств (ИУ) предназначено для…

1.  Доведения характеристик устройства до наивысшего возможного уровня

2.  Улучшения характеристик устройства до некоторого определенного уровня

3.  Уменьшения массо-габаритных показателей устройства

4.  Уменьшения себестоимости устройства.

5.  Улучшения эксплуатации

48. Оптимальное проектирование в САПР измерительных устройств (ИУ) осуществляется путем…

1.  Применения поисковых процедур теории оптимизации САПР

2.  Сознательного выбора устройства с наилучшими характеристиками из нескольких спроектированных устройств

3.  Случайноговыбора устройства из нескольких спроектированных устройств

4.  Тщательного проектирования одного устройства по заданным исходным данным.

5.  Любого из вышеперечисленных

49. В практике проектирования общая оценка качества измерительного устройства (ИУ) принимается на основании оценки…

1.  Совокупности значений отдельных характеристик

2.  Значения наиболее важной характеристики

3.  Значения каждой характеристики в отдельности

4.  Усредненного значения характеристик.

5.  Мультипликативного значения характеристик

50. В постановке задачи оптимального проектирования должна присутствовать…

1.  Совокупность независимых целевых функций, каждая из которых предназначена для улучшения какой-либо характеристики ИУ

2.  Целевая функция для улучшения наиболее важной характеристики ИУ

3.  Целевая функция для улучшения усредненной характеристики ИУ

4.  Одна целевая функция для улучшения какой-либо характеристики ИУ

5.  Одна целевая функция для улучшения мультипликативной  характеристики

51. Критерием оптимизации является обеспечение заданного значения целевой функции…