Экзаменационные вопросы по дисциплине "Физика и диагностика вещества и его поверхности" (Модель свободных электронов. Оже-спектроскопия)

Арбузов Александр

1.  Рентгеноструктурный анализ: Вульф-Брэгговское рассеяние

2.  Полевая эмиссионная микроскопия: основные характеристики

3.  Сканирующая туннельная микроскопия

4.  Метод получения чистых поверхностей путем напыления

Грехов Андрей

1. Методы предварительной очистки поверхностей
2. Рентгеноструктурный анализ: экспериментальные методы анализа
3. Полевая эмиссионная микроскопия: принципы получения полевых ионных изображений
4. Сканирующая туннельная микроскопия: принцип действия сканирующего туннельного микроскопа
5. Релаксация, реконструкция и дефекты поверхности

Грехов Арсений

1. Метод вакуумной очистки: термическая десорбция
2. Резерфордовское обратное рассеяние
3. Конверсионная мессбауэровская спектроскопия
4. Активация материалов нейтронным облучением
5. Микрорентгеноспектральный анализ: характеристическое рентгеновское излучение
6. Рентгеноструктурный анализ: определение атомной структуры по данным дифракции рентгеновских лучей
7. Полевая эмиссионная микроскопия
8. Сканирующая туннельная микроскопия: чувствительность и применения метода
9. Оже-спектроскопия: обозначения электронных переходов
10. Обратная решетка Браве
11. Эффект каналирования

Кива Андрей

1. Модель свободных электронов
2. Физическая адсорбция
3. Метод ядерных реакций: термоядерный синтез, кулоновский барьер
4. Метод радиоактивных индикаторов
5. Физические и химические задачи, решаемые масс-спектрометрией
6. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия: интерпретация данных
7. Рентгеноструктурный анализ: определение атомной структуры по данным дифракции рентгеновских лучей
8. Полевая эмиссионная микроскопия: принципы получения полевых ионных изображений
9. Сканирующая туннельная микроскопия: чувствительность и применения метода
10. Оже-спектроскопия: методы возбуждения оже-электронов

Малых Павел

1. Метод вакуумной очистки с использованием каталитических реакций
2. Резерфордовское обратное рассеяние
3. Конверсионная мессбауэровская спектроскопия
4. Активация материалов нейтронным облучением
5. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия: общая характеристика
6. Рентгеноструктурный анализ: Вульф-Брэгговское рассеяние

Окулов Илья

1. Зонная теория
2. Анизотропия поверхностного натяжения
3. Каналирования: эффект теней
4. Диагностика поверхности методом ядерных реакций
5. Методы регистрации эффекта Мессбауэра
6. Активация материалов нейтронным облучением
7. Рентгеноструктурный анализ: экспериментальные методы анализа
8. Оже-спектроскопия: Оже-эффект

Стефеев Дмитрий

1. Активация материалов нейтронным облучением
2. Микрорентгеноспектральный анализ: области применения
3. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия: проблема анализа спектров непроводящих образцов
4. Рентгеноструктурный анализ: Вульф-Брэгговское рассеяние
5. Оже-спектроскопия: методы возбуждения оже-электронов
6. Релаксация, реконструкция и дефекты поверхности

Ушаков Игорь

1. Сущность эффекта Мессбауэра
2. Масс-спектрометрические методы регистрации рассеянных ионов
3. Микрорентгеноспектральный анализ: области применения
4. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия: общая характеристика
5. Рентгеноструктурный анализ: определение атомной структуры по данным дифракции рентгеновских лучей
6. Полевая эмиссионная микроскопия: основные характеристики
7. Оже-спектроскопия: оже-спектрометры
8. Кристаллическая структура поверхности

Вопросы