Расчет надежности микросборок электронных узлов приборов по внезапным отказам

Страницы работы

Содержание работы

Расчет надежности микросборок электронных узлов приборов по внезапным отказам.

            В основу оценочного расчета надежности корпусированной микростории по внезапным отказам положены следующие допущения:

·  показателем надежности микросборки является вероятность безотказной работу P(t);

·  для всех элементов и компонентов микросборки справедлив экспоненциальный закон надежности;

·  установлены элементы (компоненты) отказ которых приводит к отказу микроструктуры в  целом; эти элементы считаются с точки зрения надежности соединенными последовательно, образуя последовательную структурную схему надежности.

            Интенсивность отказа микросборки  зависит от интенсивности отказов тонкопленочных элементов , навесных компонентов  и соединений lсоед, уровня воздействующих при эксплуатации вибраций и ударов.

                                               lМСБВ(lпл+lнаб+lсоед)

            где Кв в зависимости от жесткости требований выбирается из диапазона значений от 2 до 3 и характеризует рост интенсивности отказов за счет вибраций и ударов при использовании электронно-приборной аппаратуры на летательном аппарате.

            Интенсивность отказов тонкопленочных элементов микросборки

lпл = ПrlКсаК + Псlс0ас,  где Пr, Пс количество тонкопленочных резисторов и конденсаторов; lR0 = 0.1×10-8r-1; lс0 = 0.5×10-8r-1  – средние интенсивности отказов элементов в нормальных (лабораторных) условиях; аr, ас  – поправочные коэффициенты, учитывающие влияние температуры окружающей среды на рост интенсивности отказов – табл.

Таблица

Значения поправочных коэффициентов для lпл

Поправочные

Температуры, °С

коэффициенты

20

30

40

50

60

70

80

аR

1.00

1.15

1.40

1.95

2.80

3.50

4.40

ас

1.00

1.26

1.71

2.20

3.35

5.70

12.40

            Как видно из таблицы надежность тонкопленочных конденсаторов существенно ухудшаются при повышении температуры.

            Интенсивность отказов навесных компонентов

lНАВ = nис×lис ×аис + nт×lт ×ат + nт×lт ×ат + nR×lR ×аR + nc×lc ×аc ...

где  nис, nт, nА– количество бескорпускных ИС, транзисторов и диодов   lº 10-8 ч-1; l= 10-8 ч-1; l = 0.6×10-8 ч-1;

nR, nc – количество неравновесных резисторов и конденсаторов;

lR = 1×10-8 .... 10×10-8 ч-1; lc = 5×10-8 .... 10×10-8 ч-1 – для керамических конденсаторов; lc = 10×10-8 .... 50×10-8 ч-1 – для остальных типов конденсаторов; аИС, аТ, аД – указаны в таблице, аR, ас – определяются по таблице, полагая аR º аR = аc .

Таблица

Поправочные коэффициенты для расчета lнаб

Попра-вочные

Температура, °С

коэффи-циенты

20

30

40

50

60

70

80

аИС, ат

1.00

1.35

1.85

2.60

3.60

4.90

6.20

аД

1.00

1.27

1.68

2.00

2.60

3.40

4.10

            Рассмотренный принцип ориентировочной оценки lнаб предполагает, что все компоненты имеют коэффициенты электрической нагрузки Кн, близкие к 1.

            Интенсивность отказа в соединениях lсоед = (nпл + nн + nвн)×lК – где nпл – количество электрических соединений между пленочными элементами разных слоев (резистор – контактная площадка, проводник – и т.д.); nн – количество соединений пайкой (сваркой, контактолом) вывод всех навесных компонентов к контактным площадкам подложки микросборки; nвн – количество соединений пайкой (сваркой) перемычек от периферийных контактных площадок к выводам основания корпуса; lК = 0.1×10-8 ч-1 – средняя интенсивность отказа электрического контакта.

            Исходные данные и результаты расчетов можно представить в следующем виде

Наименование элемента (компонента)

n

lc0×108 , 1/ч

a

(t=50°C)

l×108 , 1/ч

Тонкопленочные резисторы

6

0.1

1.95

1.17

            После определения lМСБ вычисляется средняя наработка микросборки до отказа Тср и по заданной в ТЗ наработке t = 10 000 час – вероятность безотказной работы Р(t):

,         

.

Похожие материалы

Информация о работе