Методичні вказівки до лабораторних робіт з дисципліни «Основи метрології, стандартизації та управління якістю», страница 8

Далі за даними табл. 1.2 треба побудувати графік Δс = f(D) залежності систематичної складової похибки  денситометра від значення вимірюваної оптичної щільності D. При побудові графіка (рис. 1.2), визначені значення Δс наносяться на графік з протилежними знаками, що дозволяє автоматично врахувати знак поправки при визначенні дійсного значення оптичної щільності відбитка.

Рисунок 1.2 – Залежність систематичної похибки показів денситометра від значення вимірюваної оптичної щільності

На графік наносять також значення абсолютної похибки (див. рис. 1.2). Для цього з обох сторін від кривої Δс = f(D) відкладають значення ± 3σ і з’єднують між собою пунктирними лініями. Графік слугує також для виконання другої частини лабораторної роботи.

1.2.3 Визначення дійсних значень оптичної щільності тиражного відбитку

Завданням другої частини лабораторної роботи є визначення дійсних значень оптичної щільності тиражного відбитка за індивідуальними варіантами.

         Для цього спочатку (як і у першій частині) треба виміряти у 6 місцях оптичну щільність кожного з полів растрової шкали на тиражному відбитку.

        Далі треба визначити  за допомогою рис. 1.2 для кожного її поля систематичну складову похибки Δс, яка слугуватиме поправкою. Знак поправки повинен бути протилежним знакові похибки. Якщо похибка завищує результат, то поправка буде зі знаком мінус і навпаки. Наприклад, одне з полів відбитку має оптичну щільність 0,5Б (див. рис. 1.2). Для знаходження відповідного йому значення поправки, що враховує Δс, встановлюють перпендикуляр від значення 0,5 Б до перетину з кривою Δс = f(D) (на рис. 1.2 точка В). А далі, як видно з рис. 1.2, знаходять відповідне Δс (у даному прикладі Δс = 0,03 Б).

          Потім потрібно визначити середнє квадратичне відхилення σj на кожному j-му полі нормалізованої шкали за формулою (1.6) і випадкову складову Δвj похибки у кожному полі за формулою (1.7).