Методичні вказівки до лабораторних робіт з дисципліни «Основи метрології, стандартизації та управління якістю», страница 30

Цей метод дозволяє виявити чинники, які впливають на точність і стабільність технологічного процесу. Для цього будують діаграми для кожного змінного (одного) чинника.

            Повне оцінювання точності і стабільності ТП здійснюють за показниками, формули розрахунку яких наведені в [ 9  ].

а) Показник рівня настроювання процесу:

                        ,                                                     (4.1)

де Хн – заданий центр настроювання (наприклад, обсяг образотворчої інформації на пробному відбитку, який визначають за оптичною щільністю, Dн);

          –   середнє   значення   контрольованого   параметра   першої миттєвої вибірки;

– поле допуску, що є різницею між найбільшим Тв і найменшим Тн допустимими значеннями показника якості.

                                                           (4.2)

де DН – номінальне значення оптичної щільності, яке відповідає щільності пробного відбитку.

б) Показник зміщення центру розсіювання:

                                ,                                           (4.3)

де  – середнє значення показника якості контрольованої властивості останньої миттєвої вибірки.

Співставлення показника рівня настроювання Kн і показника зміщення центру розсіювання Kц дозволяє виявити зміну систематичної похибки у часі. Оцінювання зміни випадкової складової похибки у часі у відповідності з [9] передбачає визначення показників розсіювання і стабільності розсіювання.

в) Показник розсіювання (Kр), який також називається коефіцієнтом точності, характеризує ступінь відповідності поля розсіювання полю допуску. Якщо Kр > 1, то точність процесу неприйнятна. Процес вимагає удосконалення або заміни. Показник россіювання визначається за формулою: