Системы диагностирования. Алгоритмы диагностирования и методы их построения, страница 5

Рис.2.7. Схема систем вероятностного диагностирования

 Однако анализатор А ответов ОД в системе вероятностного диагностирования (рис. 2.7, а) имеет такую же сложность, что и в системе детерминированного диагностирования (рис. 2.2, а). С целью его упрощения осуществляется сжатие длинных выходных последовательностей, формируемых на выходах ОД, при помощи специальных сигнатурных анализаторов СА (см. рис. 2.7, б), которые представляют собой также регистры сдвига с обратными связями или счетчики. Применение СА позволяет эффективно тестировать сложные вычислительные системы.

          Для непрерывных объектов существует гораздо более широкое многообразие физических принципов реализации по сравнению с дискретными объектами. Это затрудняет разработку общих теоретических и методических  подходов к построению тестов для непрерывных систем. Для каждого типа последних по этой причине используются собственные математические модели и методы построения тестов.

          Системы тестового диагностирования, представленные на рис. 2.2, а и 2.7, используются в те промежутки времени, когда ОД не выполняет своих основных функций. При этом решаются задачи контроля исправности и поиска дефектов. Однако тестовое диагностирование может также применяться для контроля ОД в процессе функционирования, если в этом процессе можно выделить такие моменты, когда на входы ОД не поступают рабочие входные воздействия и выходы могут быть отключены от объектов управления.

          Структурная схема тестового диагностирования приведена на рис. 2.8.

Рис.2.8. Структурная схема тестового диагностирования

Запоминающее устройство (ЗУ) хранит тесты и эталонные реакции, которые поступают на входы ОД и анализатора по командам со стороны схемы управления. Результаты тестирования используются для организации взаимосвязи между ОД и объектом управления ОУ.

          Возможны два варианта организации тестового диагностирования, которые проиллюстрированы временными диаграммами на рис. 2.9.

Рис.2.9. Временные диаграммы включения тестового

                диагностирования

 Вариант А предусматривает первоначальное включение основного рабочего режима (время ), после чего подается проверяющий тест (время ). Полученный при выполнении рабочего режима результат запоминается до окончания процесса прохождения теста. Если тест не фиксирует наличие неисправности, то дается разрешение на дальнейшее использование указанного результата.

          При применении варианта Б сначала осуществляется подача теста (время ), а затем реализуется рабочий режим (время ). Выходной результат работы ОД оценивается по результату тестирования.

          Для анализа режимов тестирования используется коэффициент избыточного времени

.

          При  достоверность функционирования ОД с тестовым контролем для вариантов А и Б одинакова; при выше достоверность варианта А, а при – достоверность варианта Б. Как правило, , но вариант А часто не может быть использован, так как не всегда есть возможность задерживать выходную информацию после прохождения рабочего режима.

          Наиболее часто используется вариант Б, когда ОД тестируется перед его использованием. Если , то наряду с тестированием применяют и аппаратный контроль, который за время  в реальном масштабе времени определяет работоспособность ОД. Такой комбинированный контроль позволяет эффективно эксплуатировать и поддерживать в работоспособном состоянии системы с длительным сроком службы.

          Организация контроля ОД в процессе эксплуатации во многом определяется возможными режимами работы объекта, которые указаны на временной диаграмме (см. рис. 2.10).

Рис.2.10. Общий вид временной диаграммы работы объекта

                  диагностирования в процессе эксплуатации

ОД может находиться в одном из следующих трех режимов:

          – в режиме ожидания или паузы (время ), в течении которого объект может быть включен или выключен, но при этом никаких рабочих сигналов на него не подается и с него не снимается;

          – в дежурном или диагностическом режиме (время ), когда аппаратура включена и осуществляется прогон одного и нескольких подряд проверяющих тестов;