Исследование оптических спектров, страница 4

Коэффициенты τ_λ пропускания исследуемых оптических материалов и элементов на фиксированной длине волны определяются как отношение мощности, прошедшей объект, к падающей мощности опорного излучения на той же λ. Искажения истинных спектров пропущенного и опорного излучений в монохроматоре определяются одной и той же спектральной функцией   ν_мхр (λ) = f (λ). Поэтому при расчете спектральных функций τ_λ = f (λ) исследуемых материалов и элементов можно пользоваться соответствующими редуцированными спектрами пропускания I_{τ ред} (λ) и редуцированным опорным спектром I_{оп ред} (λ). Тогда

Описание лабораторной установки. Основой установки (рис. 4.1) является дифракционный монохроматор МУМ-2 со спектральным диапазоном измерений 300 ... 1300 нм, набором входных и выходных щелей c d = 0,05; 0,25; 1,0 и 3,0 мм и обратной линейной дисперсией 4,8 нм/мм. При ширине щелей, например 0,05 мм, ширина аппаратной функции монохроматора составляет Δλ₀ = 0,24 нм. Монохроматор оснащен счетчиком длин волн, электроприводом, управляющей ЭВМ и печатающим устройством.

Рис. 4.1. Схема лабораторной установки

Таблица 4.1

Перечень исследуемых источников и оптических элементов