Определение периодов двухмерной структуры

Страницы работы

2 страницы (Word-файл)

Содержание работы

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ

РЕСПУБЛИКИ БЕЛАРУСЬ

ГОМЕЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ

ТЕХНИЧЕСКИЙ  УНИВЕРСИТЕТ

имени П.О.Cухого.

Кафедра”Физика”

Лабораторная работа №4

Определение периодов двухмерной структуры.

                                                          Выполнил студент гр.ЛО-21:

                                  Ткаченко И. В.

                                                 Принял преподаватель:

                                        Петрошенко П. Д.

Гомель 2007

ПРАКТИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ

Ход работы

а) Определение длины световой волны с помощью дифракционной решетки

  1. Установим элементы установки согласно рисунку. Добьёмся появления на экране чёткой дифракционной картины. Расстояние а должно лежать в пределах 0,4-0,6 м.
  2. измерим с помощью миллиметровой линейки расстояние между решеткой и экраном (а) и расстояние Х1l , X2p, X1p, X2l. Результаты измерений занесем в таблицу I. m-порядок максимума.

m

a, мм

X1l, мм

X1р, мм

X2l, мм

X2p, мм

Хi, мм

λi нм

λсp нм

Δλ нм

1

1

500

30

30

-

-

30

0,00075

0,00075

0

2

2

500

-

-

60

60

60

0,00075

0,00075

0

3

1

500

40

40

-

-

40

0,00067

0,00067

0

4

2

500

-

-

80

80

80

0,00067

0.00067

0

  1. Изменим  расстояние а и выполним требования пункта 2. Результаты измерений занесём в таблицу I    

      (строки 3,4).

  1. Вычислим среднее значение Хi и занесём в таблицу I

                          

  1. Значение длины волны может быть определено из условия максимума:

                   

          где d=0,01 мм- период решётки

        6.     Вычислим   . Результат в нанометрах занесём в таблицу.

б) Определение периодов двухмерной структуры

1.  Заменим дифракционную решетку на металлическую сетку (С). расстояние а должно лежать в пределах 0,6-1 м.

2.  Измерим с помощью миллиметровой линейки расстояние между сеткой и экраном (а) и расстояние X1, X2, Y1, Y2. Результаты измерений занесём в таблицу 2.

3.  Значение d1 и d2 могут быть определены из условий максимума:

N

m

a,мм

Xm,мм

Ym,мм

d1,мм

d2,мм

1

1

1200

4,5

4

0,2

0,22

2

2

1200

9

8

0,19

0,2

                                            

Вывод:  Изучили дифракцию света на одномерной и двумерной структурах.                  

Похожие материалы

Информация о работе

Предмет:
Физика
Тип:
Отчеты по лабораторным работам
Размер файла:
44 Kb
Скачали:
0